“Par quel biais les voir ?” – Exposition de photographies sur les ingénieurs

“Par quel biais les voir ? Portraits obliques d’ingénieurs singuliers​”​
Vernissage le jeudi 23 janvier, à 18h30.
Exposition présentée du 20/01/14 au 07/02/14​, du lundi au vendredi de​10h à 19h.
​Immeuble des fédérations CFDT, 47 avenue Simon-Bolivar, 75019 Paris
Exposition de Delphine LERMITE, photographe, réalisée en collaboration avec Christelle DIDIER, ​sociologue.

Deuxième conférence annuelle ENAEE

La deuxième conférence annuelle ENAEE s’est tenue les 16 et 17 septembre à Leuven, en Belgique.

Vous trouverez d’autres informations sur cette conférence en suivant le lien ci-dessous
http://www.enaee.eu
Vous pouvez également télécharger au format PDF la publication de la Cti présentée lors de cette conférence, co-rédigée par la Pr.Anne-Marie Jolly et Teresa Sanchez Chaparro, Directrice des Programmes de la Cti.